Semi-Automatic Wafer Prober System for Characterization of 200-mm Wafers

IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik · 15236 Frankfurt (Oder)

Auftraggeber: IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik
Ort: 15236 Frankfurt (Oder)
Veröffentlicht: 29.09.2026
Frist (abgelaufen): 29.10.2026
Hauptgegenstand: 38540000 — Mess- & Prüftechnik

Aus der Bekanntmachung

The subject of the procurement is the supply, installation and commissioning of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and high-frequency characterization of 200-mm wafers for research and laboratory use at IHP. The system shall include, among other components, a 200-mm wafer prober with vacuum chuck and precision positioning, individual probes, multi-contact probes for RF measurements up to at least 6 GHz, a probe card system, automated microscopy and camera equipment, as well as control and software components. The scope of supply also includes transport, installation, commissioning, training, documentation, warranty and spare-parts supply.

Bekanntmachung an der Quelle öffnen →

Diese Seite gibt die Bekanntmachung wieder, nicht die Vergabeunterlagen. Für eine Angebotsabgabe zählt allein das Original auf der Vergabeplattform; dorthin führt der Verweis oben. Angaben können sich nach der Veröffentlichung geändert haben.